點擊咨詢產(chǎn)品超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)(LSIC9000)
該系統(tǒng)可對芯片進行室溫+10°C~+150°C的HTOL測試，老化過程中實時檢測被測器件的輸出信號，過程中自動對比向量。
功能
- 每塊老化板提供10路可編程電源(0.5~10V/25A) 電源規(guī)格可單獨定制
- 每塊老化板可提供，256路I/O雙向通道
- 每個試驗箱可支持最大38KW的熱耗散
- 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導入使用
- 支持芯片BIST測試
- 最大支持24個工位獨立溫控
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產(chǎn)品特性
試驗溫區(qū) | 1個 |
試驗溫度 | 室溫+10°C~+150°C |
老化試驗區(qū) | 32區(qū) |
數(shù)字信號頻率 | 10MHz |
向量深度 | 16Mbit |
信號通道數(shù) | 256路獨立可編程雙向I/O |
時鐘組數(shù) | 8組 |
信號周期 | 80-20480nS |
時序邊沿 | 雙沿 |
PIN 格式 | 8種 |
信號輸入輸出電壓 | 0.5-5V |
I/0驅(qū)動電流 | DC>100mA、瞬時電流>200mA |
DPS電源 | 0.5-6.0V/25A(可選配10V/10A,6V/50A) |
DPS電源數(shù) | 10個(可根據(jù)客戶需求配置) |
DPS輸出保護 | OVP (過壓)、UVP (欠壓)、OCP (過流) |
整機供電 | 三相AC380V+38V |
最大功率 | 100KW(典型) |
整機重量 | 2200Kg(典型) |
整機尺寸 | 2800mm(W)x 1480mm(D) x2310mm(H) |
適用標準
MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101
適用器件
適用于通用超大規(guī)模集成電路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規(guī)模集成電路