產(chǎn)品導(dǎo)航
當(dāng)前位置： 首頁(yè) 產(chǎn)品中心 可靠性測(cè)試設(shè)備 集成電路實(shí)驗(yàn)設(shè)備 集成電路（通用型） 超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng) (LSIC7000)

超大規(guī)模集成電路老化測(cè)試系統(tǒng)(LSIC7000)

該系統(tǒng)支持雙溫區(qū)，可進(jìn)行室溫+10℃~+150℃的HTOL老化測(cè)試，老化過(guò)程中實(shí)時(shí)檢測(cè)被測(cè)器件的輸出信號(hào)，過(guò)程中自動(dòng)對(duì)比向量。

功能
  • 每塊老化板提供8路可編程電源 (0.5~10V/0~25A), 電源規(guī)格可單獨(dú)定制
  • 每塊老化板可提供，184路數(shù)字信號(hào)，其中32路為雙向I/O
  • 每個(gè)試驗(yàn)箱可支持最大4KW的熱耗散
  • 支持STIL、VCT、VEC格式向量文件直接導(dǎo)入使用
  • 支持芯片BIST測(cè)試
  • 完全兼容DL601H機(jī)合的老化板，可即插即用
  • 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定

產(chǎn)品特性

試驗(yàn)溫區(qū)

2個(gè)

試驗(yàn)溫度

室溫+10°C~+150°C

老化試驗(yàn)區(qū)

16 區(qū)/32 槽位

數(shù)字信號(hào)頻率

12.5MHz

向量深度

16Mbit

信號(hào)通道數(shù)

184路(其中32路雙向//O)

時(shí)鐘組數(shù)

8組

信號(hào)周期

80-20480nS

時(shí)序邊沿

雙沿

PIN格式

8種

信號(hào)輸入輸出電壓

0.5~5V

VO驅(qū)動(dòng)電流

DC=50mA、瞬時(shí)電流≥80mA

DPS電源

0.5~6.0V/25A(可選配10V/5A)

DPS電源數(shù)

8個(gè)(可根據(jù)客戶需求配置)

DPS輸出保護(hù)

OVP(過(guò)壓)、UVP(欠壓)、CP(過(guò)流)

整機(jī)供電

三相AC380V+38V

最大功率

35KW(典型)

整機(jī)重量

1600Kg(典型)

整機(jī)尺寸

3200mm(W)x1675mm(D)x2370mm(H)


適用標(biāo)準(zhǔn)

MIL-STD-883 MIL-STD-38510 AEC-Q101

適用器件

適用于通用超大規(guī)模集成電路、SoC、FPGA、ARM、AI、低功率GPU等超大規(guī)模集成電路