<rp id="4sbtf"></rp>
專精特新“小巨人”企業(yè)
首頁
關(guān)于杭可
關(guān)于杭可
公司簡介
發(fā)展歷程
資質(zhì)榮譽(yù)
企業(yè)文化
創(chuàng)新科技
創(chuàng)新科技
技術(shù)研發(fā)
服務(wù)及能力
解決方案
產(chǎn)品中心
產(chǎn)品中心
可靠性測試設(shè)備
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
高溫動態(tài)柵偏老化測試系統(tǒng)
高溫動態(tài)反偏老化測試系統(tǒng)
高溫高濕動態(tài)反偏老化測試系統(tǒng)
集成電路實驗設(shè)備
集成電路（通用型）
超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)
超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)
集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)
集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)
集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)
集成電路（專用型）-正在開發(fā)中
集成電路（專用型）
集成電路（專用型）
功率循環(huán)設(shè)備
功率循環(huán)測試
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
IGBT功率循環(huán)測試系統(tǒng)
功率循環(huán)試驗
功率循環(huán)試驗系統(tǒng)
晶圓級可靠性測試系統(tǒng)
晶圓級可靠性測試系統(tǒng)
晶圓級可靠性測試系統(tǒng)
IGBT功率模塊測試系統(tǒng)(無功老化）
IGBT功率模塊測試系統(tǒng)(無功老化)
IGBT功率模塊測試系統(tǒng)
電容器高溫試驗設(shè)備
電容器老化
電容器高溫老化測試系統(tǒng)
電容器高溫高濕老化測試系統(tǒng)
電容器高溫老化測試系統(tǒng)
電容器高溫老化測試系統(tǒng)
電容器高溫老化測試系統(tǒng)
電容測試
電容器高溫高阻測試系統(tǒng)
高溫試驗設(shè)備
高溫反偏
高溫偏置老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫反偏老化測試系統(tǒng)
高溫柵偏
高溫柵偏老化測試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測試系統(tǒng)
高溫柵偏老化測試系統(tǒng)
高溫高濕反偏
高溫高濕反偏老化測試系統(tǒng)
高溫高濕反偏老化測試系統(tǒng)
高溫高濕反偏老化測試系統(tǒng)
高加速壽命試驗-正在開發(fā)中
高加速壽命試驗- 正在開發(fā)中
分立器件實驗設(shè)備
功率器件
功率器件動態(tài)老化系統(tǒng)
綜合老化（多功能）
多功能綜合老化測試系統(tǒng)
間歇壽命試驗
間歇壽命老化測試系統(tǒng)
間歇壽命老化測試系統(tǒng)
間歇壽命老化測試系統(tǒng)
二極管老化
穩(wěn)壓二極管恒流老化測試系統(tǒng)
穩(wěn)壓二極管恒流老化測試系統(tǒng)
高溫LED大功率老化測試系統(tǒng)
光耦老化
光耦老化測試系統(tǒng)
大功率晶體管
大功率晶體管老化測試系統(tǒng)
電源模塊三端穩(wěn)壓器
電源模塊（中小功率）
電源模塊高溫老化測試系統(tǒng)
電源模塊高溫老化測試系統(tǒng)
電源模塊（中小功率）
電源模塊（大功率）
電源模塊（大功率）
大功率電源模塊高溫老化測試系統(tǒng)
微波器件老化試驗
微波功率器件直流老化
微波管高溫靜態(tài)工作老化測試系統(tǒng)
微波管高溫靜態(tài)工作老化測試系統(tǒng)
微波功率器件直流老化
微波組件射頻老化-正在開發(fā)中
微波組件射頻老化
微波功率器件射頻老化-正在開發(fā)中
微波功率器件射頻老化
老化座·測試座·連接器
電源
高可靠程控試驗電源
直流電源（1U/2U)
直流電源
直流電源
環(huán)境試驗箱
新聞資訊
新聞資訊
公司新聞
員工天地
技術(shù)專欄
服務(wù)支持
服務(wù)支持
下載專區(qū)
聯(lián)系我們
聯(lián)系我們
銷售咨詢
人才招聘
EN
專精特新“小巨人”企業(yè)
首頁
關(guān)于杭可
公司簡介
發(fā)展歷程
資質(zhì)榮譽(yù)
企業(yè)文化
創(chuàng)新科技
技術(shù)研發(fā)
服務(wù)及能力
解決方案
產(chǎn)品中心
可靠性測試設(shè)備
老化座·測試座·連接器
電源
環(huán)境試驗箱
新聞資訊
公司新聞
員工天地
技術(shù)專欄
服務(wù)支持
下載專區(qū)
聯(lián)系我們
銷售咨詢
人才招聘
中
En
產(chǎn)品導(dǎo)航
可靠性測試設(shè)備
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
集成電路實驗設(shè)備
功率循環(huán)設(shè)備
晶圓級可靠性測試系統(tǒng)
IGBT功率模塊測試系統(tǒng)(無功老化）
電容器高溫試驗設(shè)備
高溫試驗設(shè)備
分立器件實驗設(shè)備
電源模塊三端穩(wěn)壓器
微波器件老化試驗
老化座·測試座·連接器
電源
高可靠程控試驗電源
環(huán)境試驗箱
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
當(dāng)前位置：
首頁
產(chǎn)品中心
可靠性測試設(shè)備
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
動態(tài)老化測試系統(tǒng)
