產(chǎn)品導(dǎo)航
當(dāng)前位置: 首頁(yè) 產(chǎn)品中心 可靠性測(cè)試設(shè)備 動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng) 動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng) 高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試系統(tǒng) (DH3TRB2000)

高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試系統(tǒng)(DH3TRB2000)

該系統(tǒng)針對(duì)SiC MOSFET進(jìn)行高溫高濕動(dòng)態(tài)反偏老化測(cè)試,測(cè)試方法參考AQG324。每個(gè)試驗(yàn)區(qū)域可進(jìn)行最高6個(gè)工位的測(cè)試,工位具備獨(dú)立脈沖源配置??蔀槠骷峁?biāo)準(zhǔn)85°C/85%RH試驗(yàn)環(huán)境。具有試驗(yàn)器件短路脫離試驗(yàn)功能,可自動(dòng)將故障器件脫離老化試驗(yàn)回路,不影響其他器件的正常試驗(yàn)。

功能

  • nA級(jí)別的漏電流檢測(cè)精度
  • dv/dt>30v/ns (Coss<300pF)
  • 整機(jī)30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
  • 獨(dú)特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進(jìn)程
  • 可定制工位老化電壓獨(dú)立控制功能,實(shí)現(xiàn)單工位老化超限剔除
  • 充分的實(shí)驗(yàn)員人體安全考慮設(shè)定

產(chǎn)品特性

試驗(yàn)溫度

室溫+10℃ ~+150℃

試驗(yàn)濕度

10%RH~98%RH

試驗(yàn)方法

VGS, off = VGS, min,VGS, on = VGS, max

老化試驗(yàn)區(qū)

14區(qū)(14/16區(qū) 可選)

單位工位

6(典型)

試驗(yàn)電壓

50V ~ 1000V

電壓檢測(cè)精度

檢測(cè)誤差:±(2% ±1V)

脈沖控制

1. 脈沖頻率(方波):10kHz ~ 50kHz,精度:2% ± 2LSB
2. 方波占空比 20% ~ 80%,精度:±2%
3. 電壓上升率 (dv/dt) ≥ 30V/ns(Coss < 300pF)
4. 電壓過(guò)沖視脈沖電壓幅度而定,最大不超過(guò) 10%VDS

VGS電壓測(cè)試范圍

被動(dòng)式:-0.7V ~ -20V/0V
主動(dòng)式:根據(jù)設(shè)備設(shè)定值:VGS電壓:正電壓 18V、20V、22V,3 種選擇;負(fù)電壓 -3V、-5V、-12V 任選

漏電流檢測(cè)

檢測(cè)范圍:0.1uA ~ 20mA
精度:
第一檔0.1uA ~ 0.999uA,分辨率為 0.01uA,精度:1% ± 0.02uA
第二檔1.00uA ~ 99.9uA,分辨率為 0.1uA,精度:1% ± 0.2uA
第三檔100uA ~ 999uA,分辨率為 1uA,精度:1% ± 2uA
第四檔1.0mA ~ 20.00mA,分辨率為 0.01mA,精度:1% ± 0.2mA

整機(jī)供電

三相AC380V ±38V

整機(jī)重量

1200Kg(典型)

整機(jī)尺寸

2000mm(W)×1505mm(D)×1950mm(H)


適用標(biāo)準(zhǔn)

AEC-Q101 AQG324 JESD22-A108 JEDEC JEP183A

適用器件

適用于SiC、GaN、IGBT模塊、MOS管